Нажимая кнопку «Отправить», вы соглашаетесьс политикой конфиденциальности
-
Компактный, настольный, сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-7000 NeoScope обеспечит быстрый процесс исследования и анализа микроструктуры, а также контроля качества. Поддерживает низкий вакуум.
Бюджетный вариант из серии InTouchScope заключащий в себе все самое необходимое для рутиных исследований. Может быть дополнительно оснащен энергодисперсионной системой для проведения элементного анализа и картирования при низком вакууме.
Модель разработана не только для решения исследовательских задач, а также для производства и контроля качества. Помимо возможности оснащением EDS, можно также установить WDS и EBSD системы. Новая функция Simple SEM сделает процесс по настройке устрайтва перед работой как можно более автоматизированным.
JSM-IT700HR изготовлен для получения высокого разрешения до 1 нм. При наличии дополнительных систем способен к проведению энергодисперсионной (EDS), волнодисперсионной (WDS) спектроскопий, а также к анализу дифракции обратнорассеянными электронами (EBSD). Поддержка низкого вакуума обеспечит надежное исследование нетокопроводящих образцов.
Jeol JSM-IT800 обеспечит высокое разрешение и быстрое картирование элементов благодаря электронной пушки Шоттки Плюс. Система имеет функцию Neo Engine для контроля электронно-оптической системы, а также функцию SEM Сenter для ускоренного картирования элементов. Система допускает смену объективных лиз для удовлетворения различных задач. JSM-IT800 доступен в 5 вариациях.
Новая модель со встроенной EDS системой для проведения быстрого элементного анализа. Jeol JSM-IT210 разработан с нацеливанием на автоматизацию процессов наблюдения, исследования и анализа благодаря новой функциональности "Simple SEM".
Новый сканирующий электронный микроскоп четвертого поколения JSM-IT710HR серии "HR". Серия разработана для минимизации манипуляции электронно-оптических параметров оператором в целях достижения наибольшего разрешения за счет высокой автомизации процессов настройки и улучшенной производительности благодаря новому детектору.
