Нажимая кнопку «Отправить», вы соглашаетесьс политикой конфиденциальности
Сушка в критической точке Leica EM CPD300 позволяет проводить подготовку хрупких биологических и промышленных образцов, а также жидкостей и гелей для дальнейших исследований методами растровой электронной микроскопии (SEM), рентгеновской микротомографии (micro-CT) и др.
Leica EM UC7 / Leica EM FC7 - ультрамикротом для получения срезов при комнатной температуре и криогенных условиях. Позволяет изготавливать высококачественные тонкие и ультратонкие срезы с идеально гладкой поверхностью для исследований методами световой (LM), электронной (SEM, TEM) и атомно-силовой микроскопии (AFM). Сочетая эргономичный дизайн и инновационные технологии, ультрамикротом Leica EM UC7 устанавливает новые стандарты в ультрамикротомии.
Система двойного контрастирования / окрашивания ультратонких срезов Leica EM AC20 автоматизирует окрашивание образцов для исследований методами электронной микроскопии (TEM, SEM). За один цикл окрашивается 20 сеток, реагентов хватает на 60 циклов. Высокая производительность, экономия материалов и минимальное участие оператора — заслуги контрастирующего устройства Leica EM AC20.
Leica EM KMR3 позволяет получать превосходные стеклянные ножи для приготовления высококачественных тонких срезов различных образцов для изучения методами электронной (SEM, TEM) и световой (LM) микроскопии. Ножи доступны в трех размерах: 6.4 мм, 8 мм или 10 мм. Максимальная эргономичность и простота эксплуатации, наряду с тончайшей балансировкой механических компонентов прибора и применением нового нажимного механизма обеспечивают высокую воспроизводимость результатов.
Автоматический гистологический тканевой процессор Leica EM TP предназначен для фиксации и дегидратации образцов для последующих исследований методами электронной (EM) и световой (LM) микроскопии. На процессор может быть установлено оборудование для EM или LM, при этом переключение между режимами занимает всего несколько мгновений, а время ручной обработки образцов сокращается на 75%.
Leica EM GP2 — автоматизированная система сверх быстрой погружной заморозки для криоэлектронной микроскопии, в результате которой образцы фиксируются в тонком слое аморфного льда и сохраняются в гидратированном состоянии. Используется для пробоподготовки белков, клеток, полимерных и других чувствительных материалов.
Leica EM ICE — автоматическая система заморозки при высоком давлении. Позволяет проводить крио-иммобилизацию образцов без предварительной фиксации для дальнейшего анализа структуры с высоким разрешением методами оптической и электронной микроскопии.
Leica EM VCT500 — вакуумная крио-система переноса образцов с защитой от пыли, загрязнений и факторов внешней среды. Образцы в газе или вакууме перемещаются между установками для пробоподготовки, оптическими и электронными микроскопами. При крио-техниках образец находится при низких температурах.
Leica ARTOS 3D — автоматизированный ультрамикротом для приготовления срезов при комнатной температуре и криогенных условиях. Подходит для серийной томографии и получения 3D-реконструкций образцов с помощью световой, корреляционной, а также сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.
Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливки Leica EM AFS2 позволяет проводить сублимационное замещение жидкости и последовательное понижения температуры (PLT - Progressive Lowering of Temperature), а также осуществлять низкотемпературную заливку и полимеризацию смол для подготовки образцов к исследованиям методами световой и электронной микроскопии
Автоматизированная система напыления Leica ACE200 позволяет наносить проводящие защитные покрытия тонких слоев металла и/или углерода на поверхность образца для дальнейших исследований методами электронной микроскопии и других приложений
Leica ACE600 - полностью автоматизированная система напыления проводящих защитных металлических и углеродных покрытий в высоком вакууме для исследований методами электронной микроскопии высокого разрешения и других приложений
Leica ACE900 - уникальная высоковакуумная криогенная система напыления, скалывания и сублимационного травления образцов
Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X обеспечивает прецизионную подготовку поверхности широкого класса материалов. Позволяет получать поперечные и плоские срезы образцов для проведения исследований методами электронной и атомно-силовой микроскопии, рентгеновской спектроскопии и др.
Исследования методами световой и электронной микроскопии требуют качественной подготовки образца. Leica EM TXP позволяет выполнить все этапы механической пробоподготовки на едином инструменте, обеспечивая прецизионную подготовку образцов для широкого спектра задач.
Leica Enuity представляет собой революционный шаг вперед в области ультрамикротомии. По сравнению с предыдущей моделью Leica UC7, Enuity предлагает улучшенную эргономику, значительно увеличилась ширина реза образцов, переработана и усовершенствована сенсорная панель управления.
