+7 (705) 183-05-67
info@orionica.com
Ru / 
En
Связаться
ОборудованиеМедиаО компанииКонтактыПремия
+7 (705) 771-26-42
info@orionica.com

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Оставьте заявку и мы свяжемся с вами

Что-то пошло не так

Нажимая кнопку «Отправить», вы соглашаетесь
с политикой конфиденциальности

Спасибо! Мы скоро с Вами свяжемся
Вернуться к форме
No items found.
No items found.
Пробоподготовка
Электронная пробоподготовка

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X обеспечивает прецизионную подготовку поверхности широкого класса материалов. Позволяет получать поперечные и плоские срезы образцов для проведения исследований методами электронной и атомно-силовой микроскопии, рентгеновской спектроскопии и др.

Область применения:
Пробоподготовка
Вариант оборудования:
Var
Запросить цену
  • Заголовок

<section>

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X

Leica EM TIC 3X позволяет получать прецизионные поперечные и плоские срезы образцов и выполнять полировку поверхности для проведения исследований методами:

  • Сканирующей электронной микроскопии
  • Рентгеновской спектроскопии и микроанализа
  • Дифракции отраженных электронов
  • Атомно-силовой микроскопии, Оже-спектроскопии и др.

Преимущества:

  • Одновременное травление с помощью трёх аргонных (Ar) ионных пушек
  • Работа с образцами размером до 50x50x10 мм или диаметром до 38 мм
  • Широкие и глубокие срезы, равномерное травление большой площади образца (> 4×1 мм)
  • Высокая производительность: травление материала со скоростью до 300 мкм/час (Si 10 кВ, 3.5 мА, 100 мкм от края)
  • Возможность подготовки твердых, мягких, пористых, термо- и химически- чувствительных, хрупких и/или гетерогенных материалов
  • Улучшение топографического контраста за счет автоматизированных процедур ионной полировки поверхности
  • 4 типа сменных держателя образцов для оптимизации рабочих процессов
  • Встроенный стереомикроскоп - контроль процесса травления и манипуляции с образцами
  • Возможность работы в вакуумных и криогенных (до -160°C) условиях
  • Высокая воспроизводимость результатов
  • Сенсорная панель управления, интуитивно понятный интерфейс

</section>

Дополнительные материалы

No items found.
Электронная пробоподготовка
Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X
Запросить цену

Похожие товары

Ультрамикротом Leica Enuity

Leica Enuity представляет собой революционный шаг вперед в области ультрамикротомии. По сравнению с предыдущей моделью Leica UC7, Enuity предлагает улучшенную эргономику, значительно увеличилась ширина реза образцов, переработана и усовершенствована сенсорная панель управления.

Универсальная система механической подготовки образцов Leica EM TXP

Исследования методами световой и электронной микроскопии требуют качественной подготовки образца. Leica EM TXP позволяет выполнить все этапы механической пробоподготовки на едином инструменте, обеспечивая прецизионную подготовку образцов для широкого спектра задач.

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X

Трехлучевая система ионного травления Leica EM TIC 3X обеспечивает прецизионную подготовку поверхности широкого класса материалов. Позволяет получать поперечные и плоские срезы образцов для проведения исследований методами электронной и атомно-силовой микроскопии, рентгеновской спектроскопии и др.

Устройство напыления образцов Leica EM ACE900

Leica ACE900 - уникальная высоковакуумная криогенная система напыления, скалывания и сублимационного травления образцов

Устройство напыления образцов Leica EM ACE600

Leica ACE600 - полностью автоматизированная система напыления проводящих защитных металлических и углеродных покрытий в высоком вакууме для исследований методами электронной микроскопии высокого разрешения и других приложений

Устройство напыления образцов Leica EM ACE200

Автоматизированная система напыления Leica ACE200 позволяет наносить проводящие защитные покрытия тонких слоев металла и/или углерода на поверхность образца для дальнейших исследований методами электронной микроскопии и других приложений

Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливки Leica EM AFS2

Автоматическая система криозамещения и низкотемпературной заливки Leica EM AFS2 позволяет проводить сублимационное замещение жидкости и последовательное понижения температуры (PLT - Progressive Lowering of Temperature), а также осуществлять низкотемпературную заливку и полимеризацию смол для подготовки образцов к исследованиям методами световой и электронной микроскопии

Ультрамикротом Leica ARTOS 3D

Leica ARTOS 3D — автоматизированный ультрамикротом для приготовления срезов при комнатной температуре и криогенных условиях. Подходит для серийной томографии и получения 3D-реконструкций образцов с помощью световой, корреляционной, а также сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.

Cистема переноса образцов в криогенных и вакуумных условиях Leica EM VCT500

Leica EM VCT500 — вакуумная крио-система переноса образцов с защитой от пыли, загрязнений и факторов внешней среды. Образцы в газе или вакууме перемещаются между установками для пробоподготовки, оптическими и электронными микроскопами. При крио-техниках образец находится при низких температурах.

Автоматическая система заморозки Leica EM ICE

Leica EM ICE — автоматическая система заморозки при высоком давлении. Позволяет проводить крио-иммобилизацию образцов без предварительной фиксации для дальнейшего анализа структуры с высоким разрешением методами оптической и электронной микроскопии.

Система погружной заморозки Leica EM GP2

Leica EM GP2 — автоматизированная система сверх быстрой погружной заморозки для криоэлектронной микроскопии, в результате которой образцы фиксируются в тонком слое аморфного льда и сохраняются в гидратированном состоянии. Используется для пробоподготовки белков, клеток, полимерных и других чувствительных материалов.

Автоматизированный тканевой процессор Leica EM TP

Автоматический гистологический тканевой процессор Leica EM TP предназначен для фиксации и дегидратации образцов для последующих исследований методами электронной (EM) и световой (LM) микроскопии. На процессор может быть установлено оборудование для EM или LM, при этом переключение между режимами занимает всего несколько мгновений, а время ручной обработки образцов сокращается на 75%.

Прибор для изготовления стеклянных ножей Leica EM KMR3

Leica EM KMR3 позволяет получать превосходные стеклянные ножи для приготовления высококачественных тонких срезов различных образцов для изучения методами электронной (SEM, TEM) и световой (LM) микроскопии. Ножи доступны в трех размерах: 6.4 мм, 8 мм или 10 мм. Максимальная эргономичность и простота эксплуатации, наряду с тончайшей балансировкой механических компонентов прибора и применением нового нажимного механизма обеспечивают высокую воспроизводимость результатов.

Автоматическая система контрастирования Leica EM AC20

Система двойного контрастирования / окрашивания ультратонких срезов Leica EM AC20 автоматизирует окрашивание образцов для исследований методами электронной микроскопии (TEM, SEM). За один цикл окрашивается 20 сеток, реагентов хватает на 60 циклов. Высокая производительность, экономия материалов и минимальное участие оператора — заслуги контрастирующего устройства Leica EM AC20.

Ультрамикротом Leica EM UC7 / FC7

Leica EM UC7 / Leica EM FC7 - ультрамикротом для получения срезов при комнатной температуре и криогенных условиях. Позволяет изготавливать высококачественные тонкие и ультратонкие срезы с идеально гладкой поверхностью для исследований методами световой (LM), электронной (SEM, TEM) и атомно-силовой микроскопии (AFM). Сочетая эргономичный дизайн и инновационные технологии, ультрамикротом Leica EM UC7 устанавливает новые стандарты в ультрамикротомии.